眾所周知使用X熒光光譜儀的分析的過程中，激發只發生在試樣的淺表面，所以我們需要注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，還要注意樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態等。樣品制備過程由于經過多步驟操作，還必須防止樣品的損失和沾污。其實有很多原因會導致X熒光光譜儀的樣品有誤差，但是只要好好了解相關的原因，做到熟記于心，自然誤差也會減少許多。下面小編來給大家介紹下樣品自身會引起的誤差。
1、由樣品制備和樣品自身引起的誤差：
（1） 樣品的均勻性。
（2） 樣品的表面效應。
（3） 粉末樣品的粒度和處理方法。
（4） 樣品中存在的譜線干擾。
（5） 樣品本身的共存元素影響即基體效應。
（6） 樣品的性質。
（7） 標準樣品的化學值的準確性。
創想X熒光光譜儀系列